電阻率測量儀
產(chǎn)品概述
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
電阻率測量儀高級薄膜電阻率測繪系統(tǒng)
Filmetrics SD54是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng),從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品,薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都比較重要。R54在功能上針對金屬薄膜均勻性測繪、離子注入表征和退火特性、薄膜厚度和電阻率測量以及非接觸式薄膜厚度測量進(jìn)行了優(yōu)化。
電阻率測量儀系統(tǒng)優(yōu)勢
測試點(diǎn)自定義編輯,包括矩形、線性、極坐標(biāo)以及自定義配置
可選配可容納300毫米圓形或A4(210mm*297mm)樣品
導(dǎo)體和半導(dǎo)體薄膜電阻,10個(gè)數(shù)量級范圍適用
接觸式四點(diǎn)探針(4PP)和非接觸式電渦流(EC)配置
封閉系統(tǒng)便于測量光敏或者環(huán)境敏感樣品
支持15mm 樣品高度
高精度 X-Y 平臺
應(yīng)用市場
半導(dǎo)體
先進(jìn)封裝
平板和VR顯示
穿戴設(shè)備
化合物半導(dǎo)體
太陽能
印刷電路
導(dǎo)電材料
RsMapper軟件:
測量自動(dòng)化地圖模式生成器,內(nèi)置的地圖模式生成器使您輕松生成需要測量的斑點(diǎn)圖案樣品的相關(guān)區(qū)域,從而節(jié)省了數(shù)據(jù)采集期間的時(shí)間。
這只是您可以使用的一些參數(shù)。
進(jìn)行調(diào)整以自定義地圖的屬性:
圓形或正方形地圖
徑向或矩形圖案
中心或邊緣排除
點(diǎn)密度
- 上一個(gè): SD20薄膜厚度測量儀
- 下一個(gè): Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀